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最新研究:線粒體缺陷誘發(fā)自閉癥的分子機制

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最新研究:線粒體缺陷誘發(fā)自閉癥的分子機制

日前,一篇發(fā)表在國際雜志PNAS上的研究報告中,美國費城兒童醫(yī)院等機構的科研人員發(fā)現,大腦細胞中線粒體的缺陷或會引發(fā)自閉癥譜系障礙。

目前,多項研究揭示了成百上千種基因突變與自閉癥譜系障礙發(fā)生有關,但對于這些基因突變是如何誘發(fā)自閉癥的,科學家們沒有達成共識。生化和生理學分析結果表明,能夠產生機體大部分能量的細胞機器——線粒體的缺陷可能是原因之一,而且線粒體DNA(mtDNA)的突變可能與自閉癥譜系障礙有關。

研究人員推測,如果線粒體缺陷可能會讓人們患上自閉癥譜系障礙,那么引入相關mtDNA突變的小鼠模型應該就會攜帶自閉癥的內表型,并與患者機體中能觀察到的可測量的特征相似;在這種模型中,與自閉癥相關的特征包括行為、神經生理和生化特征等。

研究人員Douglas C. Wallace表示,自閉癥譜系障礙具有高度的遺傳異質性,許多此前確定的拷貝數和功能突變的缺失都會對線粒體產生影響。他們將mtDNA的ND6基因中的輕微錯義突變引入到了小鼠模型機體中,小鼠隨后表現出社交關系的損傷、重復性行為和焦慮癥的增加,所有這些表現都是自閉癥譜系障礙常見行為特征。

研究者還發(fā)現,小鼠模型腦電圖(EEG)出現異常,而且出現更多的癲癇癥發(fā)作表現,以及大腦特定區(qū)域線粒體功能的缺陷。目前,研究人員并未在大腦的解剖學結構中發(fā)現明顯的變化。研究結果表明,線粒體的能量缺陷并不足以誘發(fā)自閉癥。

研究者Wallace表示,輕度的系統性線粒體缺陷可能會誘發(fā)自閉癥譜系障礙,但并不會引發(fā)明顯的神經解剖學缺陷;這些突變可能會誘發(fā)組織特異性的大腦缺陷。研究人員相信,相關研究有助于開發(fā)出更好的自閉癥診斷技術,開發(fā)針對線粒體功能的新型自閉癥療法。

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